▲圖一 台灣喬哈斯在此次非破壞檢測使用的Xray檢測設備型號CT2000
非破壞性檢測在各產業需求一直存在，其中穿透式Xray檢測佔了很大的一環，最近有機會服務到的對象提供了我們台灣喬哈斯以及競品的檢測結果，在同等解析度的前提下成像品質與價格都是佔著總體考量很大的一部分。 之前的文章- X-Ray原理及影響成像品質的三大要素有提及成像品質的幾大基本因素，然除了這些以外，各家廠牌的軟體開發以及技術部門調整檢測參數也是在穿透式Xray檢測中佔有相當重要程度的軟實力。
▲圖二 檢測樣品-IC晶片
在這次客戶提供的檢測樣品為IC晶片，希望透過非破壞穿透式X-Ray檢測去分析內部結構之缺陷分析，而台灣喬哈斯針對客戶的整體需求了解過後以及詢問有無與其他競品做過測試提供了設備規格之建議。再透過實際樣品應用於我們建議的檢測設備規格型號CT2000做了實際測試，同時與客戶提供之其他競品的結果(解析度同為4um)一起比較讓客戶可以更直觀且客觀的評估設備能力，其中，當然也包含了技術部門設定參數等軟實力。
▲圖三 穿透式Xray檢測-競品成像結果(局部)
▲圖四 穿透式Xray檢測-台灣喬哈斯成像結果(局部)
透過上面兩張成像結果圖，可以看到在NOI內部的PAD位置成像，這也是使用穿透式Xray檢測的重要目的，在非破壞的狀況，可以看到內部之缺陷分析/失效分析等，然在不同廠牌的檢測結果中，還是可以看出成像品質的差異，即便在同樣都是解析度4um的前提下，影像呈現由台灣喬哈斯所代理的Xary檢測設備明顯的較為清晰且銳利。 台灣喬哈斯在Xray檢測的領域中提供了研發/生產等不同的工業檢測需求，從桌上型Xray檢測設備到落地式雙源高電壓檢測設備都有，讓各種不同產業從小樣品到較為大型的鑄件皆可以服務，有檢測設備採購需求或是委託測試需求歡迎來電詢問02-29037266。
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| ▲圖五 台灣喬哈斯桌上型Xray檢測設備 | ▲圖六 台灣喬哈斯落地式Xray檢測設備 |
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