為因應產業對高可靠性與即時品管的需求，我們誠摯邀請您參加本次研討會，主題為 「X-ray 非破壞檢測技術於線上品質監控與產品失效機制分析之整合研究」。本研討會將深入探討非破壞性檢測技術於製造業各階段之應用，協助企業提升製程良率與縮短問題追溯時間。
本次活動將展示 手持式 XRF 分析儀 在材料進料檢驗及金屬成分鑑定方面的快速應用，有效協助工程師於第一時間掌握材料組成，大幅減少錯料或混料風險。針對生產線自動化與即時品管需求，亦將介紹 Xsmart Inline XRF系統，如何整合至製程中以連續監測元素含量或鍍層厚度等關鍵參數，達到智慧製造與即時反饋調控。
此外，我們亦將實際說明 X-ray 影像檢測技術 在產品失效分析（Failure Analysis）上的應用實例，包括焊點空洞、斷裂、內部結構異常等問題之精準判別，有助於快速定位瑕疵根因並建立預防機制。
敬邀各位業界先進蒞臨，共同交流先進檢測技術在品質工程領域之實務應用與未來發展。
活動資訊
| 活動時間 | 2025/07/15 (二) |
| 活動地點 | IEAT會議中心-1001教室 台北市松江路350號 (捷運行天宮站4號出口左轉約100公尺) |
| 停車位置 | 台北市松江路350號 (捷運行天宮站4號出口左轉約100公尺)🔗 |
| 報名方式 | 合約客戶免費報名,名額有限額滿為止。 |
| 報名截止 | 即日起至2025/7/7(一)或額滿為止。 |
| 聯絡電話 | 02-29037266#201 彭小姐 |
活動時間表
| 時間 | 內容 | 主講人 |
| 09:00 – 09:30 | 報到 | |
| 09:30 – 09:40 | 開場 | 台灣喬哈斯科技 |
| 09:40 – 10:10 | 【手持式XRF教育訓練及常見法規應用】 | 業務工程師 Bubble王穎淳 |
| 10:10 – 10:20 | 休息時間 | |
| 10:20 – 10:40 | 【手持式常見測試迷思跟如何解決】 | 業務工程師 Bubble王穎淳 |
| 10:40 – 10:50 | 休息時間 | |
| 10:50 – 11:20 | 【穿透式X-Ray檢測系統 非破壞檢驗之失效分析/缺陷分析】 | 業務工程師 Roy 朱愍毓 |
| 11:20 – 11:30 | 休息時間 | |
| 11:30 – 12:00 | 【Xsmart online XRF智慧監測技術助力ESG：從製程數據到永續管理】 | 業務工程師 Ashley 謝旻芸 |
| 12:00 – 13:00 | 休息時間 | |
| 13:00 – 14:30 | 【XRF輻防三小時繼續課程】 | 輻防師 |
| 14:30 – 14:40 | 休息時間 | |
| 14:40 – 16:10 | 【XRF輻防三小時繼續課程】 | 輻防師 |
| 16:10 – 17:00 | Q&A |
