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ASD光譜分析儀系列

高精度 VIS-NIR-SWIR 光譜分析解決方案

ASD 系列提供從可見光至短波紅外(350–2500 nm)完整波段量測能力,具備高訊噪比與快速掃描效能,可滿足研究級分析與現場量測需求,協助應用於多種領域中獲得精準可靠的光譜數據。

ASD terraspec labspec combi transparent_Original file
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350–2500 nm
完整波段覆蓋
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優異的訊號品質
確保數據可靠
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快速擷取光譜
提升現場效率
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彈性搭配配件
適用多種場景
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接觸式、非接觸式
量測皆適用

系列機型

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FieldSpec® 系列

高階遙測研究
  • 高訊噪比與光譜精度
  • 適用遙測與環境研究應用
  • 多種配件滿足各式量測需求
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TerraSpec® 系列

實驗與礦產應用
  • 快速礦物分析
  • 適合野外勘探與實驗環境
  • 堅固耐用,適應惡劣環境
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LabSpec® 系列

實驗室與產線應用
  • 實驗室等級分析能力
  • 適用材料、食品、化工等產業
  • 穩定可靠,提升檢測效率

適用應用

environment
遙測驗證
礦物與地質分析
礦物與地質分析
農業與環境監測
材料與化學分析
水質與生態研究

規格